Detail Cantuman
Pencarian Spesifik
Artikel
Optimization andcharacterization of elektron beam resist using atomic force microscopy.
Tidak Tersedia Deskripsi
Ketersediaan
Tidak ada salinan data
Informasi Detail
| Judul Seri |
-
|
|---|---|
| No. Panggil |
-
|
| Penerbit | FMIPA-UNNES : Semarang., 2009 |
| Deskripsi Fisik |
95-104
|
| Bahasa |
Indonesia
|
| ISBN/ISSN |
1693-1246
|
| Klasifikasi |
-
|
| Tipe Isi |
-
|
| Tipe Media |
-
|
|---|---|
| Tipe Pembawa |
-
|
| Edisi |
JURNAL PENDIDIKAN FISIKA INDONESIA: Vol.5/No.1/Jan
|
| Subjek |
-
|
| Info Detail Spesifik |
-
|
| Pernyataan Tanggungjawab |
-
|
Versi lain/terkait
Tidak tersedia versi lain